Влезте в профила си за пълен достъп до възможностите на Eclipse.
Вход
Към момента няма намерени методи за вход в Eclipse.
В момента Eclipse работи в демонстрационен режим.
Каталог "Библиографии"
| Статии от книги - библиография
EOG artefacts' duration analysis
// <I>Proceedings<D> of the Fefteenth international scientific and applied science conference ELECTRONICS' 2006, Sozopol, Bulgaria, 20-22 september 2006. - Sofia : TU Sofia, 2006, p. 98-103.
Manoilov, P. ()
EOG artefacts' duration analysis,
: , 954-438-566-5
Manoilov, P.
().
EOG artefacts' duration analysis. // <I>Proceedings<D> of the Fefteenth international scientific and applied science conference ELECTRONICS' 2006, Sozopol, Bulgaria, 20-22 september 2006. - Sofia : TU Sofia, 2006, p. 98-103..