Тестиране и надеждностни аспекти на MOS RAM паметите

Дисертация за присъждане на научна степен "Кандидат на техническите науки"

Емил Иванов Гиздарски
Науч. ръководител: Иван Георгиев Табаков

Тестиране и надеждностни аспекти на MOS RAM паметите

DIS/ТУ/Г 46Ем

Детайли

Местоиздаване

Русе

Година на издаване

1993

Страници

146 л. : с табл.

Класификационен индекс

УДК	Значение
621.382	Полупроводникова електроника. Микроелектроника. Полупроводникови прибори. Силова електроника. Измерв

Ключови думи

повреди, дешифратори, тестиране, моделиране

Допълнителна информация

Отрасъл

Техника. Технически науки

Забележка

Научна специалност 02.21.02. Елементи и устройства на автоматиката и изчислителната техника. - Библиогр. с. 92-99

Системен №

54800

Допълнителна сигнатура

Г 46

Тематични рубрики

Електроника. Радиотехника. Телевизия. <<Д>>

Инвентаризация

Статус	Брой
Дисертации (DIS)	1

Действия

APA Chicago / Turabian (16th edition) Harvard MLA (7th edition)

Гиздарски, Е. Тестиране и надеждностни аспекти на MOS RAM паметите, , 1993, 146 л. : с табл..

Гиздарски, Е. . Тестиране и надеждностни аспекти на MOS RAM паметите. Русе: , 1993, 146 л. : с табл..

Гиздарски, Е. (1993) Тестиране и надеждностни аспекти на MOS RAM паметите, Русе: , 146 л. : с табл.

Гиздарски, Е. (1993). Тестиране и надеждностни аспекти на MOS RAM паметите. Дисертация за присъждане на научна степен "Кандидат на техническите науки". Русе: 146 л. : с табл..