Каталог "Библиографии"
| Периодични издания
Determination of thin film refractive index and thickness by means of film phase thickness
// <I>Cent.<D> Eur. j. Phys., 2, 2008, № 6, p. 332-343.
M. Nenkov; T. Pencheva 
Детайли
Допълнителна информация
- ISBN
- ISSN 1895-1082
- Отрасъл
- Художествена литература
- Забележка
- IF - 0.765/2016
- Системен №
- 16589
- Допълнителна сигнатура
- D 47