Русенски университет "Ангел Кънчев"

Къде желаете да търсите

Какво желаете да търсите

Търсене в

Подредба

В момента Eclipse работи в демонстрационен режим.

Каталог "Библиографии" | Статии от книги - библиография

Phase thickness deviations' influence on properties of antireflection coatings for near infrared detectors

// <I>ISSE' 2012<D> : 35th International spring seminar on "Electronics technology", Bad Aussee, Austria, 2012, IEEE, art. no. 6273094, IEEE, Austria, p. 318-323.
B. Gyoch; P. Mashkov; S. Penchev

Детайли

ISBN
978-1-4673-2240-9 ; ISSN 2161-2528
Отрасъл
Художествена литература
Системен №
13143
Допълнителна сигнатура
P 56

Действия